在动态测试领域传感器高过载低量程一直是未能彻底解决的问题。本文在简单论述MEMS传感器原理的基础上，比较了MEMS传感器和传统工艺的压电传感器的特点，并进行了两类传感器在高过载低量程测量中的应用比较，得到了MEMS传感器能够较好完成高过载低量程测量要求的结论。