JTAG（JOINT  TEST ACTION GROUP）调试原理的主要内容包括TAP（TEST ACCESS PORT）和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE。

IEEE1149.1标准是由JTAG这个组织最初提出的，最终由IEEE批准并标准化的，所以IEEE1149.1也俗称JTAG调试标准

JTAG接口的主要信号接口就是这5个。

这5个接口信号及作用如下：

Ø        Test Clock Input（TCK）

TCK为TAP的操作提供了一个独立的、基本的时钟信号，TAP的所有操作都是通过这个时钟信号来驱动的

Ø        Test Mode Selection Input (TMS)

        TMS信号用来控制TAP状态机的转换。通过TMS信号，可以控制TAP在不同的状态间相互转换。TMS信号在TCK上升沿有效。

Ø        Test Data Input（TDI）

    TDI是数据输入接口。所有要输入到特定寄存器道德数据都是通过TDI接口一位一位串行输入的（由TCK驱动）。

Ø        Test Data Output（TDO）

TDO是数据输出接口。所有要从特定的寄存器中输出的数据都是通过TDO接口一位一位的串行输出（由TCK驱动）

Ø        Test Reset Input（TRST）

TRST可以用来对TAP Controller进行复位（初始化），可选。因为用TMS也可以对TAP Controller进行复位。

边界扫描（Boundary-Scan）

       基本思想：

    在靠近芯片的输入输出管脚上增加一个移位寄存器单元。因为这些移位寄存器单元都分布在芯片的边界上（周围），所以被称为边界扫描寄存器（Boundary-Scan Register Cell）。

    当芯片处于调试状态时候，这些边界扫描寄存器可以将芯片和外围的输入输出隔离开来。通过这些边界扫描寄存器单元，可以实现对芯片输入输出信号的观察和控制。对于芯片的输入脚，可一通过与之相连的边界扫描寄存器单元把信号（数据）加载到该管脚中区；对于芯片的输出管脚，可以通过与之相连的边界扫描寄存器单元“捕获”（CAPTURE）该管脚的输出信号。

    在正常的运行状态下，这些边界扫描寄存器对于芯片来说是同名的。

    这样，边界扫描寄存器提供了一个便捷的方式用于观测和控制所需要调试的芯片