为世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供应商--科利登系统有限公司 (Credence Systems Corporation)宣布：将于6月2日在中国西安举办第四届科利登系列研讨年会。本年度的研讨会将着重讨论有关ATE测试的各种主题，比如IC测试的趋势、零-中频收发器以及RFID芯片新的测试方法、高速总线基础等；同时还会有科利登最新产品Sapphire D-10的实机展示。

       科利登系统有限公司负责市场宣传及投资关系的副总裁Judy Dale女士说：“西安是中国半导体产业新兴和迅猛发展的城市之一，这里有很多大学，因此这也是我们技术研讨会理想的举办地之一。研讨会上将会讨论我们的客户当今在测试方面所面临的难题，并与大家一起分享我们应对的解决方案和方法。本次技术研讨会也是科利登公司继续履行对本地客户承诺的重大举措之一‘提供尽可能多的解决方案和教育培训的’。”

       关于Sapphire D－10产品 SapphireD-10平台是一款革新的高产能多功能圆片和封装测试解决方案，特别为微控制器，无线基带，显示驱动及低成本消费类混合信号芯片测试市场的低成本需求而设计。它还能对应200Mb/s的高速圆片测试市场，支持高度的并行测试。系统的采用模块化设计结构，可灵活配置，最多能支持768个数字通道，并配备高密度的模拟和混合信号仪器，而其成本只有竞争机型的一半左右。